XRD衍射仪

EXPLORER仪器介绍

一、仪器简介

EXPLORER 在众多分析领域都可发挥优良的性能，例如可以测量混合物质的相态；检测微观的结构性质，例如薄膜或块状样品中的残应力和晶体取向等。其模块化设计，更是为仪器提供了广阔的升级空间，通过升级仪器可以满足新的分析需求。

二、主要特点

• 精准传动：直接传动高精度转矩马达与优良的光学编码器相结合，确保了仪器的传动速度和精度。

• 灵活适配：全部组件可以拆分为7个模块，同时可以在5个独立自由度上检测样品，适用于粉末、薄膜和块状样品。

• 全面分析：可进行常规的晶相识别和定量，还能完成晶体尺寸、晶格应变及结晶度的计算；同时支持定量分析残余奥氏体、多晶物筛查、晶体结构分析、残余应力分析、薄膜分析、深度剖析、相变纹理和优先取向、纳米粒子分析。

• 光学灵活切换：光学系统可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或抛面镜单色器自由切换，适配不同检测需求。

• 高精度薄膜检测：采用高分辨的反射技术，检测厚度精确至1-500nm；几何平行光束采用小反射角和薄膜附件，可进行薄膜或层次分析。

• 优质光源：将抛面镜单色器与晶体开槽技术有机结合，并安装在入射光束上，可获得高强度、低散射、适合高分辨率测量的平行单色光。

• 便捷操作：配备强大、简便的操作软件，简化检测工作；软件同时具备进阶功能，可帮助用户对复杂的谱图进行分析。